X射線衍射儀（XRD）

X射線衍射儀（XRD）是一種利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，并經過處理得到衍射圖譜的儀器。

XRD的基本原理主要有以下幾個方面：

1. X射線的產生：X射線是一種頻率很高的電磁波，其波長為10^-8-10^-12m，遠比可見光短得多，因此具有強穿透力，且在磁場中的傳播方向不受影響。

2. 布拉格定律：XRD的工作原理基于布拉格定律，即當X射線照射到晶體時，晶體內部原子面之間的間距與X射線的波長相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵。布拉格定律表達式為：2dsinθ=nλ，其中d是晶體中原子面之間的間距，θ是衍射角，λ是X射線的波長，n是整數。

3. 衍射現象：當X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。

4.  晶體與非晶體材料的XRD圖譜：對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。

 XRD儀器的基本構造：XRD儀器的主要部件包括高穩定度X射線源、樣品及樣品位置取向的調整機構系統、射線檢測器以及衍射圖的處理分析系統。